| Campo Dublin Core | Valor | Língua |
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| dc.contributor.advisor | Silva, Franklin da Costa | - |
| dc.contributor.author | Bósio, Daniel | - |
| dc.identifier.citation | BÓSIO, Daniel. Técnicas de medição de antenas em campo próximo por varredura utilizando a geometria planar. 2010. 48 f. Monografia (Bacharelado em Engenharia Elétrica)-Universidade de Brasília, Brasília, 2010. | en |
| dc.description | Monografia (graduação)—Universidade de Brasília, Faculdade de Tecnologia, Departamento de Engenharia Elétrica, 2010. | en |
| dc.description.abstract | Nas técnicas de varredura, o campo eletromagnético produzido por uma antena é amostrado por uma ponta de prova posicionada em diversos pontos sobre uma superfície na região de campo próximo da antena. Apesar de suas complexidades e altos custos, estas técnicas permitem uma caracterização bastante detalhada dos diagramas de radiação. Este trabalho apresenta as técnicas de varredura enfatizando a caracterização da geometria plana, a correção de ponta de prova e seus aspectos práticos. | pt_BR |
| dc.rights | Acesso Aberto | en |
| dc.subject.keyword | Campos eletromagnéticos | en |
| dc.subject.keyword | Ondas eletromagnéticas | en |
| dc.subject.keyword | Antenas (Eletrônica) | en |
| dc.title | Técnicas de medição de antenas em campo próximo por varredura utilizando a geometria planar | en |
| dc.type | Trabalho de Conclusão de Curso - Graduação - Bacharelado | en |
| dc.date.accessioned | 2011-01-04T13:40:08Z | - |
| dc.date.available | 2011-01-04T13:40:08Z | - |
| dc.date.issued | 2011-01-04T13:40:08Z | - |
| dc.date.submitted | 2010-09 | - |
| dc.identifier.uri | http://bdm.unb.br/handle/10483/1378 | - |
| dc.language.iso | Português | en |
| dc.description.abstract1 | In scanning techniques, the electromagnetic field produced by an antenna is sampled by a probe positioned at various points on a surface in the antenna’s near-field region. Despite its complexities and high costs, these techniques allow a very detailed characterization of the radiation patterns. This paper presents the scanning techniques emphasizing the characterization of plane geometry, the probe correction and its practical aspects. | en |
| dc.identifier.doi | http://dx.doi.org/10.26512/2010.09.TCC.1378 | pt_BR |
| Aparece na Coleção: | Engenharia Elétrica
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