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Título: Análise teórica de correntes limitadas em semicondutores orgânicos dopados não intencionalmente
Autor(es): Raro, Pedro Henrique Sbampato França
Orientador(es): Blawid, Stefan Michael
Assunto: Dispositivos eletrônicos
Semicondutores orgânicos
Condutividade elétrica
Corrente elétrica
Data de apresentação: 7-Jul-2017
Data de publicação: 7-Jul-2021
Referência: RARO, Pedro Henrique Sbampato França. Análise teórica de correntes limitadas em semicondutores orgânicos dopados não intencionalmente. 2017. xii, 75 f., il. Trabalho de conclusão de curso (Bacharelado em Engenharia Elétrica)—Universidade de Brasília, Brasília, 2017.
Resumo: A aplicação de materiais orgânicos em eletrônica vem ganhando cada vez mais espaço no mercado. Diferentemente dos materiais inorgânicos, os materiais orgânicos oferecem atributos interessantes para a fabricação de tecnologias tais como flexibilidade, ampla disponibilidade e sustentabilidade. Embora materiais orgânicos apresentem-se satisfatórios quando implementados à eletrônica, a matéria orgânica é bastante suscetível a influências do ambiente como, por exemplo, oxidação, umidade e variações de temperatura, que podem levar a mudanças significativas no comportamento elétrico e, por consequência, nos parâmetros que caracterizam esses materiais. Este trabalho, portanto, visa discutir uma metodologia capaz de analizar perfis V × J de dispositivos orgânicos tipo M-i-M (metal1-semicondutor-metal2), com a finalidade de extrair parâmetros de interesse, como, por exemplo, dopagens indevidas, barreiras de potencial e tensões internas buit-in. Para tanto, por meio do sotware Sentaurus TCAD, foram gerados perfis V ×J para a geometria M-i-M contando apenas com três variáveis livres : barreira de injeção, barreira de extração e dopagem. A partir dessas curvas, que possuem parâmetros conhecidos, foi discutida uma metodologia dividida em duas etapas, uma de análise qualitativa e outra de análise quantitativa. A análise qualitativa visou verificar a maneira como os perfis V ×J simulados se apresentaram em diferentes escalas de plotagem em comparação a perfis V × J de leis analíticas difundidas na teoria de semicondutores. A etapa quantitativa buscou, por meio de mecanismos de interpolações lineares em escala duplo logarítmo e derivadas numéricas, extrair parâmetros matemáticos avaliando essas equações de interpolação às leis analíticas. Os valores obtidos foram tabelados e comparados aos valores reais usados nas simulações. Em alguns casos, foi possível determinar adaptações para leis analíticas teóricas permitindo maior abrangência e aplicabilidade.
Abstract: Electronic devices based on organic materials increasingly gain market share. Organic semicon- ductors are widely available, in some cases even from sustainable sources, and offer interesting properties like flexibility, which distinguish them from their inorganic counterparts. However, the demand of low cost and energy fabrication calls for ambient processing, which expose organic materials to degradation agents like oxygen and humidity. The resulting changes in the electrical characteristics of organic semiconductors have to be carefully analyzed and quantified. Here, a methodology is discussed for determining the unintentional doping concentration and contact bar- riers from current-voltage curves of metal-semiconductor-metal (m-s-m) samples. To this extent, electrical characteristics of hole only m-s-m samples were simulated solving the Poisson equation coupled to the charge continuity equation with drift-diffusion currents, employing the Sentaurus TCAD suite. After qualitative classification, the numerical simulations are compared to simple analytic laws allowing quantitative parameter extraction. Known descriptions for injection, bulk and contact limited currents are modified to allow for the presence of small dopant concentrations. The extracted contact and bulk properties are compared to the simulation parameters to access the precision of the employed extraction methodology.
Informações adicionais: Trabalho de conclusão de curso (graduação)—Universidade de Brasília, Instituto de Ciências Exatas, Departamento de Engenharia Elétrica, 2017.
Licença: A concessão da licença deste item refere-se ao termo de autorização impresso assinado pelo autor que autoriza a Biblioteca Digital da Produção Intelectual Discente da Universidade de Brasília (BDM) a disponibilizar o trabalho de conclusão de curso por meio do sítio bdm.unb.br, com as seguintes condições: disponível sob Licença Creative Commons 4.0 International, que permite copiar, distribuir e transmitir o trabalho, desde que seja citado o autor e licenciante. Não permite o uso para fins comerciais nem a adaptação desta.
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