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dc.contributor.advisorBlawid, Stefan Michael-
dc.contributor.authorOliveira, Vitor Hugo da Silva-
dc.identifier.citationOLIVEIRA, Vitor Hugo da Silva. Avaliação de modelos de injeção de carga para a engenharia de contatos em TCAD. 2018. [14], 52 f., il. Trabalho de Conclusão de Curso (Bacharelado em Engenharia Elétrica)—Universidade de Brasília, Brasília, 2018.pt_BR
dc.descriptionTrabalho de Conclusão de Curso (graduação)—Universidade de Brasília, Faculdade de Tecnologia, Departamento de Engenharia Elétrica, 2018.pt_BR
dc.description.abstractMateriais orgânicos emergentes trazem a promessa de eletrônicos de baixo custo e grandes áreas. Normalmente utilizados como material de camada ativa na tecnologia de transistores de filme fino, eles permitem o desenvolvimento de dispositivos eletrônicos leves, macios e flexíveis, como rótulos inteligentes, sistemas integrados vestíveis, peles artificiais e implantes médicos. No entanto, materiais orgânicos possuem uma resistência de contato com metais maior do que suas contrapartes inorgânicas, degradando o desempenho do dispositivo e impedindo o seu alocamento ao mercado. Portanto, esse trabalho visa fornecer modelos computacionais para diferentes estratégias de engenharia de contatos que englobem um grande número de fenômenos de interface. Embora o silício seja utilizado como o principal material semicondutor para as simulações, os modelos discutidos aqui também são aplicáveis a dispositivos orgânicos. Empregando o simulador de dispositivos Sentaurus TCAD, comercializado pela Synopsys, nós modelamos diferentes interfaces metal-semicondutor com e sem camadas intermediárias, avaliando os fenômenos relacionados e as estratégias correspondentes para melhorar os contatos. As curvas de corrente-tensão de diferentes resistores semicondutores foram simuladas e as respectivas resistências de contato determinadas, analisadas e discutidas.pt_BR
dc.rightsAcesso Abertopt_BR
dc.subject.keywordEletrônica orgânicapt_BR
dc.subject.keywordMateriais - testespt_BR
dc.subject.keywordEngenharia de contatospt_BR
dc.titleAvaliação de modelos de injeção de carga para a engenharia de contatos em TCADpt_BR
dc.typeTrabalho de Conclusão de Curso - Graduação - Bachareladopt_BR
dc.date.accessioned2021-09-09T19:30:01Z-
dc.date.available2021-09-09T19:30:01Z-
dc.date.submitted2018-12-07-
dc.identifier.urihttps://bdm.unb.br/handle/10483/28494-
dc.language.isoPortuguêspt_BR
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dc.description.abstract1Emergent organic materials hold the promise for low-cost, large-area electronics. Used as active layer materials in thin-film transistor technology, they enable the development of light-weight, soft and flexible electronic devices like smart labels, wearable integrated systems, artificial skins and medical implants. However, organic materials possess a higher contact resistance with metals than their inorganic counterparts, degrading device performance and hindering successful market placement. Thus, this work aims to provide computational models for different contact engineering strategies that encompass a large number of interface phenomena. Although silicon is used as the main semiconductor material of the simulations, the models discussed here are applicable for organic devices too. Employing the Sentaurus TCAD device simulator, commercialized by Synopsys, we modeled different metal-semiconductor interfaces with and without intermediate layers, evaluating the related phenomena and the corresponding strategies to improve contacts. Current-Voltage curves of different semiconductor resistors were simulated and the respective contact resistances determined, analyzed and discussed.pt_BR
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